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시험기명 무반사실
용 도 안테나에서 방사되는 패턴을 측정하기 위한 곳으로 무반사실 내부 벽면에는 전파흡수체가 부착되어 있어 전파가 반사되지않으며 자유공간상에서 측정하는것과 동일한 효과를 갖게 함
구매년도
제조국명
제작업체명
규 격
 
시험기명 Passive Intermodulation Distortion Analyzer
용 도 Passive Intermodulation Distortion Test
구매년도 2003, 2005년
제조국명 미국
제작업체명 -
규 격 2003년 : Model SI-900A(890~960MHz)
2005년 : Model SI-2000B(1920~2170MHz)
 
시험기명 Network Analyzer
용 도 S파라미터를 측정하기 위한것, 모든 RF회로 시스템의 측정에 응용
구매년도 2005년
제조국명 미국
제작업체명
규 격 30KHz-6GHz
 
시험기명 낙하 시험기
용 도 제품 충격 시험용
구매년도 2002년
제조국명 한국
제작업체명 두이 시험기
규 격 (높이:1.5m)
 
시험기명 진동 시험기
용 도 제품 내부 진동용
구매년도 2002년
제조국명 한국
제작업체명 두이 시험기
규 격 (진동범위:5~60Hz , 내부SIZE:500×500×10t)
(가로×세로×높이)
 
시험기명 굽힘 시험기
용 도 제품 내구성 시험용
구매년도 2002년
제조국명 한국
제작업체명 두이 시험기
규 격 (내부SIZE:700×350×400) (가로×세로×높이)
 
시험기명 마모성 시험기
용 도 제품 표면 마모성 시험용
구매년도 2002년
제조국명 한국
제작업체명 두이 시험기
규 격 (왕복거리:40-100mm 시험횟수:10-50회/min SIZE:550×250×450cm) (가로×세로×높이)
 
시험기명 열충격 시험기
용 도 제품 내구성 시험용
구매년도 2005년 11월
제조국명 한국
제작업체명 ALL THREE
규 격 (고온부 온도 범위:0℃ ~ 180℃, 저온부 온도 범위:-20℃ ~ -70℃ 각부 chamber 내부 size:고온부:300x300x300
저온부 : 300x300x300) (가로×세로×높이)
 
시험기명 항온 항습기
용 도 제품 고,저온 습도 시험용
구매년도 05년11월
제조국명 한국
제작업체명 ALL THREE
규 격 속도 조절 범위:온도범위:-40℃ ~150℃
습도사용범위 20℃~85℃
 
시험기명 항온 항습기
용 도 제품 고,저온 습도 시험용
구매년도 2002년
제조국명 한국
제작업체명 JEOTECH
규 격 속도 조절 범위:온도범위:-40℃ ~150℃
습도사용범위:30~90%RH
 
시험기명 염수분무 시험기
용 도 제품 부식 시험용
구매년도 2002년
제조국명 한국
제작업체명 두이 시험기
규 격 (시험온도:상온 65℃ 기준온도 35℃ 습도:
분무 가능 사용범위:30~90%RH 내부 SIZE:1300×650×1200mm (가로×세로×높이)
 
시험기명 이차원도형 측정기 측정 범위:1/1000
용 도 제품 거리,각원 측정용
구매년도 2005년
제조국명 대만
제작업체명 제이 교역
규 격
 
시험기명 CONTACT FORCE 측정기 측정 범위:1/1000 규격:1~10kgf
용 도 제품 TENTION 측정용
구매년도 2005년
제조국명 일본
제작업체명 AIKOH
규 격 1~10kgf
 
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